中国赛宝华东实验室材料、元器件无损测试实验室正式建立
2011-08-29
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为了进一步提高对长三角电子制造企业的技术服务能力,由华东实验室采购建设的材料、元器件无损测试实验室目前正式完成安装、调试工作,标志着华东实验室理化分析部材料、元器件无损测试实验室正式建立。
作为材料检测和电子产品重要的失效分析检测重要手段,该无损测试实验室主要引进X-ray透视系统和超声波扫面显微镜两台套大型无损测试设备。
一、X-RAY透视系统
用途
1、 材料内部缺陷(空洞、气泡、裂缝等)检查;
2、 PCBA焊点焊接质量诊断与检测;
3、 元器件内部引线键合缺陷诊断与检测;
4、 裂缝或空洞尺寸测量
主要技术指标
设备名称:X射线透视系统
型号:YXLON SMT Cougar
电压范围:30kV~160kV;
最小分辨率:小于1um;
最高几何放大倍数:大于1200倍;
旋转范围:倾斜至少70度+全圆周自动旋转;
成像系统灰度等级:优于16-bit;
最大样品尺寸:不小于440 x 550mm;
最大检测区域:不小于310 x 310mm。
X射线透视系统 X-RAY代表性图片 BGA 焊球检测 QFP内引线检测 成品件内导线连接检测 电磁线圈引线检测 通孔焊料填充高度测量 焊点及内引线检测
二、超声波扫面显微镜
用途
1、 材料内部杂质、夹杂物、沉淀物的诊断与检测;
2、 材料内部空洞、气泡、空隙、裂缝等缺陷检测;
3、 元器件粘接层有无分层、附着物以及其他人为夹杂物;
主要技术指标
设备名称:超声波扫描显微镜
设备型号:Sonoscan D 9500
换能器:低频至高频(15MHz、30 MHz、50 MHz、100 MHz、230 MHz,300 MHz),满足不用样品检测需求;
扫描模式:A-Scan(某点扫描)、B-Scan(块扫描)、C-Scan(层扫描)、Multi-Scan(多层扫描)、Q-BAM(虚拟横截面)、T-Scan (穿透式扫描)、3-V(3维图像)、Tray-Scan(盘扫描);最大扫描范围:12.0×12.0英寸(305×305mm);
X,Y,Z轴移动重现性:小于±0.5μm;
门限:门限位置可精确至1.0ns,限宽0.25ns~1.0μs可选;
图像分辨率:优于268百万像素;
扫描声学显微镜(Sonoscan D 9500)
联系人:汪 洋 wangyang@ceprei.com 0512-68078941
杨永兴yangyongxing2000@126.com 0512-68058408
工信部电子五所华东分所